Risk Methodologies for Technological Legacies
作者：
Dennis C·Bley
|
Vitaly A·Eremenko
副标题： Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria, 2-11 May 2000
页数： 396
ISBN： 9781402012587
副标题： Proceedings of the NATO Advanced Study Institute, Bourgas, Bulgaria, 2-11 May 2000
页数： 396
ISBN： 9781402012587
您对《Risk Methodologies for Technological Legacies》有什么评价吗，点击右上角“我想说两句”，说出你的看法吧。
我要写长评
书评
有什么“读后感”吗？您可点击右上角“我要写长评”来进行评价噢。
评价“Risk Methodologies for Technological Legacies”